Cảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm

Cảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm 

Bojiong Cảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm Sử dụng bốn wav sáng tạoE Công nghệ giao thoa giao nhau cắt bên. Với mật độ cực cao là 512 × 512 (hơn 260.000) điểm phát hiện pha, nó đạt được độ phân giải mặt sóng ở cấp độ nanomet. Các Cảm biến mặt sóng Duy trì độ chính xác đo 2nm RMS trong môi trường tiêu chuẩn mà không có sự cô lập rung và đầu ra một bộ hoàn toàn các thông số kỹ thuật quang học, bao gồm các hệ số Zernike, PSF và MTF, ở độ phân giải đầy đủ ở mức 5 khung hình mỗi giây. Tận dụng thuật toán giải pháp thích ứng và cách tử được mã hóa ngẫu nhiên được sản xuất trong nước, nó hoạt động ổn định trong môi trường công nghiệp phức tạp, bao gồm cả các loại đặc trưng bởi sự rung động và biến động nhiệt độ. Nó cung cấp một giải pháp đo lường mặt sóng đáng tin cậy cao cho sản xuất siêu chính xác, lắp ráp hệ thống quang điện tử và nghiên cứu khoa học tiên tiến.

BojiongCảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm Giới thiệu

CácCảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm là công cụ đo lường quang học hàng đầu thế hệ tiếp theo của chúng tôi. Nó nắm giữ chứng nhận hệ thống quản lý chất lượng ISO 9001 và có thể truy nguyên được Viện Đo lường Quốc gia Trung Quốc (NIM). Nó đi kèm với mộtmột-Bảo hành. Cảm biến này sử dụng một hệ thống quang học giao thoa thông thường độc quyền và kiến ​​trúc giải pháp mặt sóng thời gian thực, loại bỏ sự cần thiết phải thay đổi pha hoặc gương tham chiếu. Nó có thể đạt được các phép đo phía trước độ phân giải cực cao 512 × 512 ngay cả trong môi trường hiệu chỉnh cao.

Với độ chính xác cực cao 2nm RMS, dải động rộng ≥160 μm và 5 khung/khả năng đầu ra toàn thời gian thực đầy đủ thứ hai,Cảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm  có thể nắm bắt chính xác các chi tiết mặt sóng thoáng qua và quang sai bậc cao. Nó được áp dụng rộng rãi cho các lĩnh vực như chẩn đoán chùm tia laser, kiểm tra bề mặt dạng tự do, quang học thích ứng và sản xuất siêu chính xác. Nó thực sự đạt được "đo lường khởi động mà không bị cô lập," cải thiện đáng kể hiệu quả và độ tin cậy của kiểm tra quang học chính xác cao.

BojiongCảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm Tham số (đặc điểm kỹ thuật)

BojiongCảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm Tính năng và ứng dụng

Kể từ năm 2006，Đội của Giáo sư Yang Yongying tại Đại học Chiết Giang đã ra mắt loạt phim FIS4 phổ rộngCảm biến mặt sóng Sau 17 năm nghiên cứu và phát triển, sử dụng thiết kế đường dẫn chung và các thuật toán tái thiết mặt trước thời gian thực.

· Thiết kế đường dẫn quang đơn giúp loại bỏ sự cần thiết của ánh sáng tham chiếu, cho phép hoạt động cắm và chơi.

· Có thể phát hiện thời gian thực của dữ liệu mặt sóng mà không cần rung động

Nền tảng cách ly.

· Độ nhạy có thể đạt đến 2nm RMS.

· Độ phân giải đạt 512 × 512.

· Kích thước chỉ bằng kích thước của một nắm đấm.

 Cái nàyCảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm được phát triển đặc biệt để hỗ trợ nghiên cứu khoa học và các kịch bản công nghiệp có độ chính xác cao. Độ phân giải cực cao của nó có thể phát hiện nhiều chi tiết mặt sóng của đối tượng được thử nghiệm. Nó có độ phân giải cực cao 512 × 512 (262.144) điểm pha, phản hồi phổ rộng 400-900nm và màn hình 3D thời gian thực độ phân giải toàn bộ 5 khung. Nó cung cấp một công cụ đo cảm biến mặt sóng lý tưởng để phát hiện mặt sóng tia laser, quang học thích ứng, đo bề mặt mặt phẳng, hiệu chuẩn hệ thống quang học, phát hiện cửa sổ quang học, đo bề mặt hình cầu quang học, phát hiện độ nhám bề mặt và cấu hình vi mô bề mặt.

BojiongCảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm Ứng dụng

BojiongCảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm Chi tiết

CácCảm biến mặt sóng độ phân giải cực cao FIS4 400-900nm Sử dụng công nghệ nhiễu xạ bốn sóng được bằng sáng chế, phát triển độc lập, được mã hóa ngẫu nhiên, đạt được sự tự tin của mặt sóng được đo bằng nguồn ánh sáng đơn. Quá trình nhiễu này xảy ra trong mặt phẳng hình ảnh phía sau. Công nghệ này làm giảm đáng kể các yêu cầu về sự kết hợp nguồn ánh sáng, loại bỏ sự cần thiết của bất kỳ bộ chuyển động pha nào và cho phép các phép đo giao thoa kế chính xác với các hệ thống hình ảnh thông thường. Sản phẩm thể hiện sự kháng cự đặc biệt đối với các rung động môi trường và độ ổn định hoạt động cực cao, đạt được độ chính xác đo mức độ nanomet mà không cần cơ sở cách ly rung. So với các cảm biến mảng microlens truyền thống Hartmann, FIS4 mang lại những lợi thế đáng kể: thu nhận điểm pha mật độ cao hơn, phạm vi phản hồi phổ rộng hơn và phạm vi đo động lớn hơn, tất cả trong khi cung cấp hiệu suất chi phí tổng thể vượt trội. Với kiến ​​trúc kỹ thuật sáng tạo của nó, FIS4Cảm biến mặt sóng Xác định lại tiêu chuẩn cho phép đo quang học có độ chính xác cao, cung cấp một giải pháp nâng cao đáng tin cậy và hiệu quả hơn cho nghiên cứu khoa học và thử nghiệm công nghiệp.

Hình.1.Phase Nguyên tắc hình ảnh dựa trên nhiễu cắt bên bốn sóng bằng cách sử dụng cách tử lai được mã hóa ngẫu nhiên (RehG)

Hình.2

CácSense Fis4 Waver, với thiết kế nhỏ gọn, tích hợp, độ bền môi trường đặc biệt, độ phân giải thời gian cao và khả năng tương thích hệ thống mạnh mẽ, đã trở thành một công cụ đột phá trong đo lường quang học, thể hiện tiềm năng rộng rãi cho ứng dụng trong nghiên cứu khoa học và đổi mới công nghiệp. Ban đầu tập trung vào các kịch bản kiểm tra độ chính xác cao trong các hội thảo quang truyền thống, bao gồm kiểm tra bề mặt thành phần quang, đánh giá chất lượng chùm tia laser và hiệu chỉnh hệ thống quang học thích ứng, các ứng dụng của nó hiện đã được mở rộng đáng kể để bao gồm các trường tiên tiến như hình ảnh mô hình, hình ảnh.

CácCảm biến mặt sóng FIS4'S Thiết kế nhỏ gọn cao cho phép tích hợp liền mạch vào các đường quang của kính hiển vi hiện có hoặc các hệ thống quang học phức tạp. Kiến trúc độc đáo của nó, dựa trên nguyên tắc giao thoa kế đường thông thường, cung cấp độ mạnh đặc biệt, duy trì độ nhạy pha nanometer ngay cả trong môi trường có hiệu chỉnh cao, đảm bảo hoạt động ổn định mà không cần thiết bị phân lập rung động bổ sung. Hơn nữa, khả năng tái tạo mặt sóng tiếp xúc duy nhất của cảm biến cho phép phân tích chính xác và phân tích định lượng các quá trình động tốc độ cao, như chuyển động chất lỏng, quá độ hạt và truyền laser.

Trong nghiên cứu y sinh, Cảm biến mặt sóng FIS4Hệ thống đã được sử dụng rộng rãi cho hình ảnh pha định lượng ba chiều không có nhãn, dài hạn, ba chiều của nhiều loại tế bào sống, như COS-7, HT1080, RPE, CHO, HEK và tế bào thần kinh chính, giảm đáng kể nhiễu phototoxic và cung cấp một quan điểm mới để nghiên cứu động lực tế bào. Công nghệ này cũng có hình ảnh trễ pha tuyệt vời, cho phép trực quan hóa độ tương phản cao của các cấu trúc dưới màng cứng lưỡng kim như sợi collagen và tế bào học, thúc đẩy đáng kể nghiên cứu về cơ học và bệnh lý mô.

Hơn nữa,Cảm biến mặt sóng của FIS4 Kiến trúc thể hiện tiềm năng đáng kể cho việc mở rộng chéo và liên ngành. Các khái niệm kỹ thuật của nó đã được mở rộng thành công cho các hệ thống hình ảnh pha mới trong tia X, hồng ngoại giữa sóng (MWIR) và hồng ngoại sóng dài (LWIR), cung cấp các giải pháp đo mới cho khoa học vật liệu, quản lý nhiệt và an ninh quốc gia. Trong những năm gần đây, cảm biến đã được áp dụng rộng rãi trong các kịch bản mới nổi như đánh giá thao tác pha metasurface và đặc tính tính chất quang học của vật liệu hai chiều, chứng minh giá trị quan trọng của nó và khả năng ứng dụng rộng rãi như một công cụ đo lường cơ bản trong việc thúc đẩy đổi mới ngành liên ngành trong khoa học quang học và vật liệu.

CácCảm biến mặt sóng FIS4 Tiếp tục đẩy các ranh giới của ứng dụng, giải quyết các thách thức đo lường sóng trong nhiều tình huống với một hệ thống duy nhất, trở thành một trong những công cụ cốt lõi hỗ trợ sản xuất cao cấp, nghiên cứu khoa học đời sống và phát triển vật liệu tiên tiến.