Cảm biến mặt sóng gần hồng ngoại FIS4 900-1200nm

Cảm biến mặt sóng gần hồng ngoại FIS4 900-1200nm

CácBojiong Cảm biến mặt sóng FIS4 NIR 900-1200nm được thiết kế đặc biệt để đo chính xác trong dải bước sóng 900171700NM. Nó áp dụng công nghệ giao thoa cắt bên bốn sóng tối ưu hóa sâu và mô-đun phát hiện được tăng cường hồng ngoại, đạt được độ phân giải không gian cực cao là 512 × 512 và độ nhạy pha của RMS 2nM trong phạm vi phổ gần hồng ngoại. Cảm biến có phạm vi động lớn ≥260μm, cho phép phân tích chính xác các quang sai mạnh và mặt sóng dốc trong khi triệt tiêu hiệu quả nhiễu laser. Được trang bị lớp phủ chống phản chiếu toàn băng và cấu trúc chống động mạch thông thường, nó có thể thực hiện các phép đo ổn định và có thể lặp lại cao mà không có sự cô lập rung trong các kịch bản như xử lý laser, kiểm tra tích hợp hệ thống quang học và siêu dẫn, cung cấp hỗ trợ dữ liệu đáng tin cậy cho thiết kế quang hóa hồng ngoại và sản xuất.

BojiongFIS4 NIR Cảm biến mặt sóng 900-1200nm Giới thiệu

CácBojiong Cảm biến mặt sóng gần hồng ngoại FIS4 900-1200nm là thế hệ thiết bị kiểm tra quang học chính xác cao của công ty chúng tôi, với khả năng chống rung tuyệt vời và khả năng đo sóng theo thời gian thực. CácCảm biến mặt sóng gần hồng ngoại FIS4 900-1200nm đến Hệ thống quản lý chất lượng ISO 9001 và được chứng nhận bởi Viện Điện học Trung Quốc (NIM). Nó đi kèm với bảo hành một năm. CácCảm biến mặt sóng NIR FIS4 là plug-and-play, dễ vận hành và bảo trì thấp, cải thiện hiệu quả hiệu quả kiểm tra và độ tin cậy của các hệ thống quang học.

BojiongCảm biến mặt sóng FIS4 NIR 900-1200nm Tham số (đặc điểm kỹ thuật)

BojiongCảm biến mặt sóng FIS4 NIR 900-1200nm Tính năng và ứng dụng 

Từ năm 2006, nhóm của Giáo sư Yang Yongying tại Đại học Chiết Giang đã ra mắt thành công FIS4 phổ rộng Sê -ri cảm biến mặt sóng Dựa trên thiết kế giao thoa kế đường dẫn và thuật toán tái tạo sóng thời gian thực sau 17 năm nghiên cứu và phát triển chuyên dụng. Sản phẩm này có các tính năng nổi bật sau đây:

· Chống rung mạnh và cách ly mạnh mẽ: Phát hiện sóng thời gian thực có thể đạt được trong các môi trường phức tạp mà không cần nền tảng cách ly rung;

· Đo lường độ nhạy cao: Độ nhạy của sóng lên đến 2nm RMS, cho phép chụp chính xác các thay đổi pha nhỏ;

· Trình cắm và phát đường dẫn quang đơn: Thiết kế đường dẫn quang đơn không có đèn tham chiếu, cho phép sử dụng ngay khi hoạt động bật nguồn và thuận tiện;

· Compact, nhẹ và di động: Chỉ có kích thước của một nắm tay, tạo điều kiện tích hợp và sử dụng trường.

CácCảm biến mặt sóng gần hồng ngoại FIS4 900-1200nmđược thiết kế cho đo lường quang học cao cấp trong kiểm tra công nghiệp, nghiên cứu khoa học và ứng dụng quốc phòng. Với độ phân giải cao 512 × 512 (262.144) điểm pha, chúng cho phép các phép đo mặt sóng chính xác cao trong phạm vi 900 Phản1200nm và hỗ trợ hiển thị kết quả 3D thời gian thực ở độ phân giải đầy đủ ở mức 10 khung hình mỗi giây. Các Cảm biến mặt sóng NIR FIS4 Có thể được sử dụng để đo quang sai của các hệ thống quang học, hiệu chuẩn hệ thống quang học, đo phân bố mạng lưới bên trong của vật liệu, đo mặt sóng của metasurfaces và metalenses, v.v.

Bojiong Cảm biến mặt sóng FIS4 NIR 900-1200nm  Ứng dụng

Bojiong Cảm biến mặt sóng FIS4 NIR 900-1200nm Chi tiết

Các Cảm biến mặt sóng gần hồng ngoại FIS4 900-1200nmSử dụng công nghệ nhiễu xạ bốn sóng được mã hóa ngẫu nhiên được cấp bằng sáng chế, đạt được sự tự giao dịch của mặt sóng được đo bằng một đường dẫn ánh sáng. Giao thoa xảy ra ở mặt phẳng hình ảnh phía sau. Công nghệ này làm giảm đáng kể yêu cầu về sự kết hợp nguồn sáng, loại bỏ nhu cầu chuyển động pha và cho phép các phép đo giao thoa điện chính xác cao với các hệ thống hình ảnh tiêu chuẩn. Sản phẩm cung cấp khả năng chống rung tuyệt vời và độ ổn định cực cao, cho phép đo lường sóng không cần thiết. So với các cảm biến Hartmann truyền thống dựa trên các mảng microlens, cảm biến sóng gần hồng ngoại FIS4 900-1200nm vượt trội trong một số chỉ số hiệu suất chính: độ phân giải điểm pha cao hơn, khả năng thích ứng của dải vận hành rộng hơn và phạm vi động lớn hơn. Nó cũng cung cấp hiệu suất chi phí vượt trội, cung cấp một giải pháp đáng tin cậy cho một loạt các kịch bản kiểm tra quang học chính xác.

Hình.1.Phase Nguyên tắc hình ảnh dựa trên nhiễu cắt bên bốn sóng bằng cách sử dụng cách tử lai được mã hóa ngẫu nhiên (RehG)

Hình.2

CácFIS4Cảm biến mặt sóng đã trở thành một công cụ mạnh mẽ và được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu và công nghiệp khoa học do những ưu điểm của nó như cấu trúc nhỏ gọn, độ ổn định mạnh mẽ, độ phân giải thời gian cao và khả năng tương thích tốt với các hệ thống kính hiển vi hiện có. Ban đầu, cảm biến này chủ yếu được sử dụng để phát hiện các tác vụ trong các hội thảo quang truyền thống, bao gồm đánh giá chất lượng thành phần quang, phân tích chùm tia laser và hiệu chỉnh hệ thống quang học thích ứng. Sau đó, các kịch bản ứng dụng của nó đã dần mở rộng sang nhiều trường tiên tiến như hình ảnh y sinh, định vị hạt nano, đặc tính metasurface và đo độ dốc nhiệt độ.

Thiết kế cơ học nhỏ gọn củaFIS4Cảm biến mặt sóng Cho phép nó được tích hợp dễ dàng vào các nền tảng kính hiển vi hiện có khác nhau, trong khi độ mạnh tuyệt vời của nó đảm bảo rằng độ chính xác đo giao thoa cao vẫn có thể được duy trì ngay cả trong môi trường rung mạnh. Trong nghiên cứu y sinh, FIS4 đã đạt được thành công, có độ phân giải cao, hình ảnh thời gian thực của các tế bào sống khác nhau, như COS-7, HT1080, RPE, CHO, tế bào HEK và tế bào thần kinh, cung cấp một công cụ quan trọng cho nghiên cứu động lực học tế bào.

Ngoài ra,FIS4Cảm biến mặt sóng Cũng được sử dụng rộng rãi trong hình ảnh chậm phát triển, cho thấy các mô sinh học dị hướng và các cấu trúc dưới tế bào, như sợi collagen và cytoskeletons, thông qua hình ảnh có độ tương phản cao. Công nghệ này được mở rộng hơn nữa để chụp ảnh pha trong các ban nhạc X-Ray, Mid-Wave hồng ngoại (MWIR) và Hồng ngoại sóng dài (LWIR), cho thấy tiềm năng rộng của nó trong các ứng dụng liên ngành. Phù hợp, FIS4 cũng đã được sử dụng rộng rãi trong các nghiên cứu đặc tính của các vật liệu thực tế và các vật liệu thực tế.