BOJIONG là nhà sản xuất, nhà cung cấp và xuất khẩu Kiểm tra thị giác máy hàng đầu Trung Quốc. Có đội ngũ kỹ thuật vững mạnh và đảm bảo dịch vụ sau bán hàng. Tuân thủ việc theo đuổi chất lượng hoàn hảo của sản phẩm, để việc Kiểm tra Thị giác Máy của chúng tôi đã được nhiều khách hàng hài lòng. Thiết kế tối ưu, nguyên liệu chất lượng, hiệu suất cao và giá cả cạnh tranh là những gì mọi khách hàng mong muốn và đó cũng là những gì chúng tôi có thể cung cấp cho bạn. Tất nhiên, điều cần thiết nhất là dịch vụ hậu mãi hoàn hảo của chúng tôi. Bạn có thể yên tâm mua Kiểm tra thị giác máy tùy chỉnh từ chúng tôi. Chúng tôi rất mong được hợp tác với bạn, nếu bạn muốn biết thêm, bạn có thể tham khảo ý kiến của chúng tôi ngay bây giờ, chúng tôi sẽ trả lời bạn kịp thời!
Ưu điểm của Kiểm tra bằng thị giác máy: Dựa trên hình ảnh trường tối tán xạ vi mô tròn, độ phân giải lên tới 0,5μm, kết hợp quét công suất cao và thấp, để đạt được phạm vi phát hiện có độ chính xác cao, phát hiện khuyết tật vi mô ở quy mô vĩ mô, lập kế hoạch tự động theo đến hình dạng bề mặt của chức năng quét dưới khẩu độ, báo cáo kỹ thuật số đầu ra tự động, tương thích với tiêu chuẩn quốc gia, tiêu chuẩn quân sự, bảng quốc tế, báo cáo thống kê, v.v. AI Deep learning dựa trên lý thuyết máy học, thông qua quy trình học phân cấp để trích xuất các thông tin cấp cao , trừu tượng hóa phức tạp dưới dạng biểu diễn dữ liệu, phương pháp học sâu tạo ra kết quả nhanh hơn các phương pháp học máy tiêu chuẩn. Nó phù hợp để tự động phát hiện các khiếm khuyết về ngoại hình trong Kiểm tra thị giác máy.
Có thể thực hiện việc phát hiện tự động, tốc độ cao và độ chính xác cao các khuyết tật trên bề mặt kính và kim loại bằng cách sử dụng Kiểm tra thị giác máy, có thể giải quyết hiệu quả vấn đề phát hiện trực quan hiệu quả thấp và độ chính xác kém. Nó phù hợp để kiểm soát chất lượng khuyết tật bề mặt của màn hình điện thoại di động, màn hình hiển thị, linh kiện quang học, linh kiện ánh sáng yếu, bề mặt sản phẩm kim loại, tấm silicon, v.v. Thiết bị có thể tự động xuất báo cáo theo các định dạng sau: USMiitary Standard MIL- PRF-13830A/B, ISO10110-7, GB/T 1185-2006. Đối với các thành phần quang học, nanomet bề mặt wafer, phát hiện khuyết tật dưới micromet và phát hiện khuyết tật bề mặt hình cầu, phi cầu ở cấp độ micromet phụ.
