Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150 có độ phân giải phát hiện lên tới 0,5 micromet và khẩu độ kiểm tra tối đa là 150mm x 150mm. Thiết bị có khả năng tự động tạo báo cáo với các định dạng báo cáo bao gồm Tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ MIL-PRF-13830A/B và Tiêu chuẩn Quốc tế ISO10110-7.
|
tên sản phẩm |
Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học Zer AOI150 |
|
Kích thước phát hiện tối đa |
150mm x 150mm |
|
Độ phân giải phát hiện |
0,5μm |
|
Phương pháp phát hiện |
Hình ảnh quét mảng trường tối |
|
Báo cáo đầu ra |
Tiêu chuẩn quốc gia, tiêu chuẩn quân sự Hoa Kỳ và báo cáo doanh nghiệp tùy chỉnh. |
Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150 sử dụng công nghệ thị giác máy để phát hiện tự động, tốc độ cao và độ chính xác cao các khuyết tật trên bề mặt kính và kim loại, giải quyết hiệu quả các vấn đề về hiệu quả thấp và độ chính xác kém trong kiểm tra trực quan. Độ phân giải phát hiện cao nhất có thể đạt tới 0,5μm và khẩu độ phát hiện tối đa có thể lớn tới 150mm x 150mm. Hình ảnh sử dụng hình ảnh chiếu sáng hình khuyên và hình ảnh trường tối phân tán vi mô. Thiết bị có thể tự động xuất báo cáo, với các định dạng báo cáo bao gồm Tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ MIL-PRF-13830A/B và Tiêu chuẩn Quốc tế ISO 10110-7.
Thích hợp để kiểm soát chất lượng các khuyết tật bề mặt trong các thành phần quang học, tấm cửa sổ quang học, tấm silicon, tấm sapphire, v.v.
Thiết bị này có thể xử lý các loại lỗi sau:
Các khuyết điểm khi đánh bóng: vết trầy xước, vết rỗ, sứt mẻ, bong bóng, bụi bẩn, v.v.
Các khuyết tật của lớp phủ: bong tróc, hư hỏng lớp phủ, v.v.
◆ Chiếu sáng hình khuyên đa chùm
◆ Hình ảnh có độ phóng đại thay đổi với các tùy chọn độ phóng đại cao và thấp
◆ Độ chính xác phát hiện 0,5 μm
◆ Phát hiện nhiều tấm wafer toàn tấm
◆ Động cơ tuyến tính cho hình ảnh nhanh chóng
◆ Được trang bị FFU (Bộ lọc quạt) để đảm bảo độ sạch bên trong
Chiếu sáng hình ảnh hình khuyên đa chùm tia
Kính hiển vi zoom tự động từ 1X đến 8X.
Có thể điều chỉnh kẹp nhanh cho toàn bộ tấm.
Động cơ tuyến tính 2D có độ chính xác cao đảm bảo độ chính xác khi chụp nhanh.
Đầu ra bảng tính tiêu chuẩn quân sự
Hiển thị kết quả kiểm tra
Bề mặt sơn bị trầy xước.
Vết xước
Điểm gây tổn thương do tia laze 1
Điểm gây tổn thương do tia laze 2
Điểm hạt kích thước nano
Chất xơ
Độ trễ thành phần
tổn thương lớp màng
|
Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150 |
|
|
Mục |
Sự miêu tả |
|
Người mẫu |
AOI150 |
|
Chức năng thiết bị |
Phát hiện khuyết tật định lượng cho các linh kiện quang học phẳng có bề mặt siêu mịn và xuất báo cáo điện tử theo kết quả phát hiện như Tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ, Tiêu chuẩn Quốc gia và Tiêu chuẩn Quốc tế. |
|
Kích thước phát hiện tối đa |
150mm × 150mm |
|
Độ chính xác phát hiện |
Độ phóng đại thấp 5μm, độ phóng đại cao 0,5μm |
|
Phương pháp kẹp |
Kẹp toàn bộ tấm hoặc kẹp từng mảnh, hỗ trợ kẹp mảnh vuông và tròn. |
|
Phương pháp san lấp mặt bằng |
Vật liệu toàn tấm hỗ trợ lấy nét tự động, cân bằng điện. |
|
Phương pháp hình ảnh |
Chiếu sáng hình khuyên, chụp ảnh trường tối phân tán vi mô, phù hợp với "Phương pháp phát hiện định lượng các khuyết tật bề mặt của các thành phần quang học—Phương pháp chụp ảnh trường tối phân tán vi mô" được mô tả trong tiêu chuẩn quốc gia GB/T 41805-2022. |
|
Phương pháp phát hiện |
Khâu quét độ phóng đại thấp, định lượng định vị độ phóng đại cao. |
|
Cơ chế quét |
Động cơ tuyến tính 2D, hành trình 150mm × 150mm. |
|
Thông số máy ảnh |
Camera mục tiêu lớn, 5 triệu pixel. |
|
Định dạng báo cáo |
Định dạng Excel, Word, Tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ, Tiêu chuẩn Quốc gia, Tiêu chuẩn Quốc tế hoặc báo cáo thống kê doanh nghiệp. |
|
Cấu hình PC công nghiệp |
Bộ xử lý i7, bộ nhớ 32GB, ổ cứng 1T, bộ nhớ video 6GB. |
|
Kích thước thiết bị |
900mm × 800mm × 2000mm (L × W × H) |
|
Điện áp cung cấp điện |
220V ± 10% |
Địa chỉ
Số 578 đường Yingkou, quận Yangpu, Thượng Hải, Trung Quốc
điện thoại
