Công ty TNHH Công nghệ Máy móc Chính xác Bojiong (Thượng Hải)
Công ty TNHH Công nghệ Máy móc Chính xác Bojiong (Thượng Hải)
Các sản phẩm
Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150
  • Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150

Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150

Để đáp ứng nhu cầu nâng cấp tự động hóa dây chuyền sản xuất của doanh nghiệp, BOJIONG đã giới thiệu sản phẩm thị giác máy mới Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150. Thiết bị này có khả năng phát hiện các khuyết tật kính một cách tự động, tốc độ cao và độ chính xác cao, giải quyết hiệu quả các vấn đề về hiệu suất thấp và độ chính xác kém liên quan đến kiểm tra trực quan thủ công. Nó phù hợp để kiểm soát chất lượng các khuyết tật bề mặt trên màn hình điện thoại di động và màn hình hiển thị. Mọi thắc mắc và vấn đề xin vui lòng gửi email cho chúng tôi và chúng tôi sẽ trả lời bạn sớm.

Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150 có độ phân giải phát hiện lên tới 0,5 micromet và khẩu độ kiểm tra tối đa là 150mm x 150mm. Thiết bị có khả năng tự động tạo báo cáo với các định dạng báo cáo bao gồm Tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ MIL-PRF-13830A/B và Tiêu chuẩn Quốc tế ISO10110-7.

 

Thông số kỹ thuật của mặt hàng:


tên sản phẩm

Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học Zer AOI150

Kích thước phát hiện tối đa

150mm x 150mm

Độ phân giải phát hiện

0,5μm

Phương pháp phát hiện

Hình ảnh quét mảng trường tối

Báo cáo đầu ra

Tiêu chuẩn quốc gia, tiêu chuẩn quân sự Hoa Kỳ và báo cáo doanh nghiệp tùy chỉnh.

 

Tính năng của máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học BOJIONG Zer AOI150



Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150 sử dụng công nghệ thị giác máy để phát hiện tự động, tốc độ cao và độ chính xác cao các khuyết tật trên bề mặt kính và kim loại, giải quyết hiệu quả các vấn đề về hiệu quả thấp và độ chính xác kém trong kiểm tra trực quan. Độ phân giải phát hiện cao nhất có thể đạt tới 0,5μm và khẩu độ phát hiện tối đa có thể lớn tới 150mm x 150mm. Hình ảnh sử dụng hình ảnh chiếu sáng hình khuyên và hình ảnh trường tối phân tán vi mô. Thiết bị có thể tự động xuất báo cáo, với các định dạng báo cáo bao gồm Tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ MIL-PRF-13830A/B và Tiêu chuẩn Quốc tế ISO 10110-7.


Các trường ứng dụng của máy phát hiện khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150



Thích hợp để kiểm soát chất lượng các khuyết tật bề mặt trong các thành phần quang học, tấm cửa sổ quang học, tấm silicon, tấm sapphire, v.v.

Thiết bị này có thể xử lý các loại lỗi sau:

Các khuyết điểm khi đánh bóng: vết trầy xước, vết rỗ, sứt mẻ, bong bóng, bụi bẩn, v.v.

Các khuyết tật của lớp phủ: bong tróc, hư hỏng lớp phủ, v.v.

◆ Chiếu sáng hình khuyên đa chùm

◆ Hình ảnh có độ phóng đại thay đổi với các tùy chọn độ phóng đại cao và thấp

◆ Độ chính xác phát hiện 0,5 μm

◆ Phát hiện nhiều tấm wafer toàn tấm

◆ Động cơ tuyến tính cho hình ảnh nhanh chóng

◆ Được trang bị FFU (Bộ lọc quạt) để đảm bảo độ sạch bên trong

Chiếu sáng hình ảnh hình khuyên đa chùm tia



Kính hiển vi zoom tự động từ 1X đến 8X.


Có thể điều chỉnh kẹp nhanh cho toàn bộ tấm.


Động cơ tuyến tính 2D có độ chính xác cao đảm bảo độ chính xác khi chụp nhanh.


Phần mềm kiểm tra thông minh AOI



Đầu ra bảng tính tiêu chuẩn quân sự

 

Hiển thị kết quả kiểm tra

Bề mặt sơn bị trầy xước.

 

Vết xước

 

Điểm gây tổn thương do tia laze 1

Điểm gây tổn thương do tia laze 2

 

Điểm hạt kích thước nano

 

Chất xơ

 

Độ trễ thành phần

 

tổn thương lớp màng


Thông số máy phát hiện khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150

 

Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150

Mục

Sự miêu tả

Người mẫu

AOI150

Chức năng thiết bị

Phát hiện khuyết tật định lượng cho các linh kiện quang học phẳng có bề mặt siêu mịn và xuất báo cáo điện tử theo kết quả phát hiện như Tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ, Tiêu chuẩn Quốc gia và Tiêu chuẩn Quốc tế.

Kích thước phát hiện tối đa

150mm × 150mm

Độ chính xác phát hiện

Độ phóng đại thấp 5μm, độ phóng đại cao 0,5μm

Phương pháp kẹp

Kẹp toàn bộ tấm hoặc kẹp từng mảnh, hỗ trợ kẹp mảnh vuông và tròn.

Phương pháp san lấp mặt bằng

Vật liệu toàn tấm hỗ trợ lấy nét tự động, cân bằng điện.

Phương pháp hình ảnh

Chiếu sáng hình khuyên, chụp ảnh trường tối phân tán vi mô, phù hợp với "Phương pháp phát hiện định lượng các khuyết tật bề mặt của các thành phần quang học—Phương pháp chụp ảnh trường tối phân tán vi mô" được mô tả trong tiêu chuẩn quốc gia GB/T 41805-2022.

Phương pháp phát hiện

Khâu quét độ phóng đại thấp, định lượng định vị độ phóng đại cao.

Cơ chế quét

Động cơ tuyến tính 2D, hành trình 150mm × 150mm.

Thông số máy ảnh

Camera mục tiêu lớn, 5 triệu pixel.

Định dạng báo cáo

Định dạng Excel, Word, Tiêu chuẩn Quân đội Hoa Kỳ, Tiêu chuẩn Quốc gia, Tiêu chuẩn Quốc tế hoặc báo cáo thống kê doanh nghiệp.

Cấu hình PC công nghiệp

Bộ xử lý i7, bộ nhớ 32GB, ổ cứng 1T, bộ nhớ video 6GB.

Kích thước thiết bị

900mm × 800mm × 2000mm (L × W × H)

Điện áp cung cấp điện

220V ± 10%

 

 

Thẻ nóng: Máy dò khuyết tật bề mặt thành phần quang học AOI150, Trung Quốc, Nhà sản xuất, Nhà cung cấp, Chất lượng, Nhà máy, Giá cả, Nâng cao, Mới nhất
Gửi yêu cầu
Thông tin liên lạc
Nếu có thắc mắc về Cảm biến giao thoa kế, Máy phân tích mặt sóng, Cảm biến mặt sóng hoặc bảng giá, vui lòng để lại email của bạn cho chúng tôi và chúng tôi sẽ liên hệ trong vòng 24 giờ.
X
We use cookies to offer you a better browsing experience, analyze site traffic and personalize content. By using this site, you agree to our use of cookies. Privacy Policy
Reject Accept